Th16C
신뢰성 유망과학기술자
좌장 : 허남수(서울과기대) 11:00~12:00
Th16C-1
유연 전자소자의 신뢰성을 위한 초박막 분리 및 전사 기술
강수민(서울과학기술대학교)
Th16C-2
제로샷 학습을 활용한 복합고장 진단 방법
오환인, 정준하(아주대학교)

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