세션 트랙

Th08B

전자부품신뢰성(I)

좌장 : 박진형(한국기술교육대)

09:50~10:50

Th08B-1

산화 그래핀/PEDOT:PSS 혼합박막의 에틸렌글리콜 처리를 통한 열적 안정성 향상

임동재, 오은성, 김형준(KAIST), 원대연, 고승환(서울대학교), 김택수(KAIST)

초록 논문

Th08B-2

Physics-of-Failure Based Lifetime Prediction Model of Discrete IGBTs for Prognostic Health Management

김주환, 이준섭, 이재원, COLOSO ERNESTO MIGUE(한국뉴욕주립대학교), 한창운(한국뉴욕주립대)

초록 논문

Th08B-3

Prognostics and Health Management Method for Discrete IGBTs in Electric Vehicles under Variable Loading Conditions Using an Isodamage-Curve State-of-Damage Model

이준섭, 김주환, 이재원, COLOSO ERNESTO MIGUE, 한창운(한국뉴욕주립대학교)

초록 논문

Th08B-4

SoD-Based Prognostics and Health Management of Aluminum Electrolytic Capacitors in Electric Vehicle Applications

이재원, Ernesto Miguel Coloso, 김주환, 이준섭, 한창운(한국뉴욕주립대학교)

초록 논문

Th08B-5

딥러닝을 이용한 전력 반도체 패키지의 고장 모드 예측

백주희, 김제민, 마병진, 이규석(한국전자기술연구원)

초록 논문

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